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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：21

题名/责任者:
集成电路测试技术/武乾文主编
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-121-44351-0 精装/CNY128.00
载体形态项:
XVII, 329页:图;25cm
丛编项:
集成电路系列丛书.集成电路封装测试
个人责任者:
武乾文 主编
学科主题:
集成电路-电路测试
中图法分类号:
TN407
书目附注:
有书目 (第314-329页)
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN407/8 010942977   文锦书苑     可借 文锦书苑
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